Auf dem Weg zur simultanen Mikroanalyse - erste Anwendungen eines ICP-TOF-MS

hdl:10013/epic.21782

Auf dem Weg zur simultanen Mikroanalyse - erste Anwendungen eines ICP-TOF-MS

Lüdke, C., Hoffman, E., Skole, J., Wollbrandt, J., Kriews, Michael and Reinhardt, Heiko ;

Contact

mkriews [ at ] awi-bremerhaven.de

Abstract

Item Type

Conference (Invited talk)

Authors

Lüdke, C., Hoffman, E., Skole, J., Wollbrandt, J., Kriews, Michael and Reinhardt, Heiko ;

Divisions

AWI Organizations > Geosciences > Glaciology
AWI Organizations > Geosciences > Geophysics

Programs

Basic Research > Helmholtz Independent Research

Publication Status

Published

Event Details

18. ICP-MS-Anwendertreffen und 6. Symposium Massenspektrometrische Methoden der Elementspurenanalyse, 06-09 Okt, Berlin, Deutschland..

Eprint ID

11323

Cite as

Lüdke, C. , Hoffman, E. , Skole, J. , Wollbrandt, J. , Kriews, M. and Reinhardt, H. (2003): Auf dem Weg zur simultanen Mikroanalyse - erste Anwendungen eines ICP-TOF-MS , 18. ICP-MS-Anwendertreffen und 6. Symposium Massenspektrometrische Methoden der Elementspurenanalyse, 06-09 Okt, Berlin, Deutschland. .

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