Auf dem Weg zur simultanen Mikroanalyse - erste Anwendungen eines ICP-TOF-MS


Contact
mkriews [ at ] awi-bremerhaven.de

Abstract


Item Type
Conference (Invited talk)
Authors
Divisions
Programs
Peer revision
Not peer-reviewed
Publication Status
Published
Event Details
18. ICP-MS-Anwendertreffen und 6. Symposium Massenspektrometrische Methoden der Elementspurenanalyse, 06-09 Okt, Berlin, Deutschland..
Eprint ID
11323
Cite as
Lüdke, C. , Hoffman, E. , Skole, J. , Wollbrandt, J. , Kriews, M. and Reinhardt, H. (2003): Auf dem Weg zur simultanen Mikroanalyse - erste Anwendungen eines ICP-TOF-MS , 18. ICP-MS-Anwendertreffen und 6. Symposium Massenspektrometrische Methoden der Elementspurenanalyse, 06-09 Okt, Berlin, Deutschland. .


Share

Research Platforms
N/A

Campaigns


Actions
Edit Item Edit Item